Laboratorio di Circuiti a Radiofrequenza

Temi: Problematiche di integrazione e affidabilità in tecnologia CMOS su scala nanometrica. Tipi di misure: Caratterizzazione elettrica e Studio della affidabilità di materiali e dispositivi integrati. Strumentazione: standard Tool di simulazione: LabView per il controllo remoto. Software Synopsys per la simulazione di componenti.

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