Strumentazione

MODALITA' DI ACCESSO AL LABORATORIO ED UTILIZZO DELLE STRUMENTAZIONI

Per potere accedere al laboratorio è necessario attivare una membership (secondo il tariffario esposto nella

relativa sezione ovvero su base di convenzione con il CNIS - Centro di Ricerca per la Nanotecnologie applicate all'Ingegneria - che gestisce il Laboratorio.

Per informazioni in merito all'attivazione di membership si richiede di contattare il Referente Amministrativo del Centro:

Dott.ssa Maria Elisabetta Dessj - e-mail: mariaelisabetta.dessj@uniroma1.it

Piattaforma HR-FESEM (Field Emission Scanning Electron Microscopy ad alta risoluzione), modello AURIGA Zeiss - responsabili: M. S. Sarto, M. Balucani, M. Rossi Tecnico: Dr. Francesco Mura – email: francesco.mura@uniroma1.it Il microscopio acquistato grazie ai fondi della Regione Lazio, raggiunge una risoluzione di 1 nm ed è fondamentale per ogni attività che si svolge nel laboratorio. In particolare è di fondamentale utilizzo per lo svolgimento delle attività relative alle linee di ricerca del progetto (NANO-IC, NANO-MAT, NANO-SHIELD, NANO-BIO, NANO-FEOP). La piattaforma è completa di: •EDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy) Bruker - responsabile: M. Rossi •EBL (Electron-Beam Lithography) Reith - responsabile: M. Rossi •FIB (Focus Ion Beam) - responsabile: T. Valente Sistema a fascio ionico focalizzato per nanofabbricazione (analisi, deposizioni e ablazioni su scala nanometrica).
Sistema di 4 nano-manipolatori Kleindiek completi di kit per misure di picocorrenti, kit per misura di resistività elettrica superficiale, nanoindentometro - responsabile: M. S. Sarto Tecnico: Dr. Alessio Tamburrano – email: alessio.tamburrano@uniroma1.it Il sistema di nano manipolatori consente la manipolazione all’interno della camera del FESEM di nano dispositivi, la misura di caratteristiche I/V in dc di nano dispositivi mediante misure a due e a quattro punte, la misura della resistività locale di materiali (su aree inferiori a 50 nm x 50 nm), la misura della resistenza meccanica superficiale di nano materiali mediante nanoindentometro. Tale strumento risulta necessario nell’ambito del progetto per lo svolgimento delle linee di ricerca NANO-IC, NANO-MAT, NANO-SHIELD, NANO-FEOP. Acquistato grazie ai fondi della Regione Lazio.
Piattaforme AFM (Atomic Force Microscopy) - responsabili: F. Bordi, C. Mariani, M. Rossi • AFM Veeco Multimode con controller Nanoscope 3 • AFM Veeco Icon con controller Nanoscope 5 e sistema Harmonix integrato Tecnico: Dr. Simona Sennato – email: simona.sennato@roma1.infn.it Il sistema dei due microscopi costituisce una piattaforma unica nel suo genere su territorio regionale. L'attrezzatura è di uso basilare per le attività di caratterizzazione morfologica su nanoscala di nano materiali.
Microscopio a fluorescenza per live imaging - responsabile: D. Uccelletti Tecnico: Dr. Anna Maria Salvia – email: annamaria.salvia@uniroma1.it; Dr. Francesco Mura - email: francesco.mura@uniroma1.it Fondamentale per l'analisi sia di strutture micrometriche che di strutture cellulari. Il microscopio è dotato di sistema correlative per analisi di microscopia ottica e a scansione elettronica mediante FESEM.
Diffrattometro a raggi-X, D8 ADVANCE della Bruker AXS - responsabile: Prof. Antonio D'Alessandro Tecnico: Francesco Mura – francesco.mura@uniroma1.it Note: per l’utilizzo dell’attrezzatura e le tariffe di utilizzo contattare direttamente il Direttore del SNN-Lab (antonio.dalessandro@uniroma1.it) Il diffrattometro è in grado di effetuare l’analisi strutturale di polveri cristalline in capillare con geometria focalizzante in trasmissione ed per film sottili utilizzando una configurazione in riflessione (Bragg-Brentano). La peculiarità significativa di tale strumento scientifico è l’utilizzo di una sorgente di radiazione X avente anodo al Molibdeno (λ=0.71Å) che lo rendono idoneo per analisi strutturali accurate di materiali solidi in fase amorfa e di materiali liquidi in capillare.
Microprobe Station CASCADE (dc-65GHz) - responsabile: A. Tamburrano La stazione di micromanipolazione consente la caratterizzazione di micro/nano dispositivi nell’intervallo di frequenze da dc fino a 65 GHz. E’ di fondamentale utilizzo nell’ambito delle linee di ricerca NANO-IC e NANO-MAT per la caratterizzazione elettromagnetica a radio frequenza, microonde e d.c. di dispositivi micro/nano strutturati. Acquistato grazie al finanziamento della Regione Lazio.
Sistema di deposizione plasma micro-wave PECVD - responsabile: F. Palma, M. Balucani L'attrezzatura è di uso basilare per la fabbricazione di nanostrutture quali nanotubi di carbonio, nanoplacchette di grafite e nanofili di silicio. Risulta quindi di centrale utilizzo nell’ambito delle linee di ricerca NANO-IC, NANO-MAT, NANO-SHIELD, NANO-FEOP. Acquistato grazie ai fondi della Regione Lazio. Per l'utilizzo della strumentazione è necessario contattare il responsabile scinetifico Prof. Fabrizio Palma (fabrizio.palma@uniroma1.it) al fine di concordare i processi da effettuare e definire la conseguente tariffa di utilizzo.
Sistema combinato QUORUMTECH per sputtering di metalli e film di carbonio - responsabile: A. D'Alessandro Tecnico: Dr. Francesco Mura - email: francesco.mura@uniroma1.it Metallizzatore turbo-sputter con controllo digitale per preparativa di campioni per analisi FESEM e Evaporatore al carbonio per preparativa di campioni. Acquistato grazie ai fondi della Regione Lazio.
Forno a muffola - responsabile: M. S. Sarto Tecnico: Dr. Fabrizio Marra – email: fabrizio.marra@uniroma1.it Temperatura di lavoro fino a 1300°C. Per l'utilizzo contattare il Dr. Marra.
Preparativa chimica/biochimica - responsabile: A. Boffi Tecnico: Dr. Fabrizio Marra – email: fabrizio.marra@uniroma1.it Per l'utilizzo del laboratorio di preparativa è necessario procedere alla prenotazione tramite il sistema Labmanager.
Reometro rotazionale con elettroreologia Anton Paar MCR 302 - responsabile: M. S. Sarto Tecnico: Prof. Giovanni De Bellis – email: giovanni.debellis@uniroma1.it Il reometro rotazionale consente caratterizzazioni reometriche sia in regime oscillatorio che rotazionale ad altissima risoluzione, grazie al motore EC sincrono, supportato da cuscinetto ad aria. Nel sistema è inoltre presente il controllo di forza normale, con range di misura da 0.005 a 50 N. Il reometro è equipaggiato con modulo per elettroreologia, consentendo la caratterizzazione reometrica con concomitante applicazione di un campo elettrico (dipendente dal gap impostato) per tensioni fino a 10 kV. Completa il reometro una cappa a controllo termico con tecnologia Peltier, che consente la variazione della temperatura di misura tra -40°C e 200°C. Le geometrie attualmente disponibili sono: piatto-piatto da 25 mm, piatto-piatto da 50 mm e piatto-cono da 40 mm, coni. Il reometro è stato acquistato con Fondi Ricerca della Sapienza. Per l’utilizzo dell’attrezzatura è necessario contattare direttamente il Prof. De Bellis per concordare la tipologia di test e poi procedere alla prenotazione usando il sistema Labmanager.